瞰新聞生活中心／台北報導

為幫助資賦優異學生找到個別優勢與天賦，提供適性教育，臺北市政府教育局每年定期辦理國小一般智能資賦優異學生鑑定，114學年度國民小學一般智能資賦優異學生鑑定報名作業自10月9日起10月15日中午12時止在「臺北市國民小學一般智能資優學生鑑定安置系統」（https://www.gtide.tp.edu.tw）開放線上報名，並請務必於當天下午4時前將網路報名之相關資料自行下載列印繳交至就讀學校導師/特教組，請欲參與鑑定之學生及家長特別注意鑑定報名時程。

通過一般智能資賦優異鑑定之學生，後續將安置於一般智能資優資源班或特殊教育方案。資優教育之課程規劃，將視學生興趣及個別需求，提供充實、多元領域的課程活動，如獨立（專題）研究課程、運用社區資源進行參訪等，鼓勵資優學生主動探索感興趣的議題，透過個別化指導學生探究與實作，增進其概念與知識，激發內在動機，養成自主學習的習慣，培養面對未知問題的能力，展現學生多元優勢才能。

教育局提醒家長，去年報名參加鑑定學生共有5,057位，通過學生計593名。當家長準備替子女報名參與鑑定時，請務必詳細閱讀「臺北市114學年度國民小學一般智能資賦優異學生鑑定安置宣導相關資料」及「臺北市114學年度國民小學一般智能資賦優異學生鑑定安置計畫」，請參考計畫中「一般智能資賦優異學生鑑定觀察推薦表」，檢核孩子的特質，適當觀察推薦及確認是否報名。若有任何問題，皆可逕洽學校特教組，以獲得相關訊息。